檢索結果：共6筆資料 檢索策略： "缺陷".ckeyword (精準) and cdept.raw="電子工程系"
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隨著電腦視覺技術的發展，越來越多的公司正在用電腦視覺取代人工金屬表面缺陷檢測。然而，傳統的影像處理方法在處理影像時往往面臨巨大的挑戰，包括消除雜訊、消除失真和偵測微小的物體，導致計算效率和檢測精度低…
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半導體積體電路的製造過程是歷經數百個製程步驟，而且涵蓋了物理、化學、熱力學、動力學、機械…等複雜領域交互配合而成。在製造過程中，難免會產生缺陷（defect），有些缺陷並不容易用傳統的測試方法發現，…
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於本論文中，為了尋求檢測低溫多晶矽顯示器面板參數設定之最佳化。從公式中得知，Cs=Qcs/Vcs、Qcs=I*T，則Vcs=(I*T)/Cs，當電壓值為固定時，則電流值與時間為影響因子。因此在實驗中…
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低溫多晶矽薄膜電晶體( Low-Temperature Poly-Si Thin Film Transistors, LTPS TFTs )面板被視為未來可能成為下一世代的顯示技術主流。由於LTPS…
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近十年來，有機薄膜電晶體已有顯著的發展且現在很有可能應用在許多地方。與矽為基礎的無機薄膜電晶體比較，有機薄膜電晶體在製作及應用上，基本提供兩個主要的優點:低溫需求及低成本，而低溫製程其中一個考量的重…
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金屬氧化物半導體薄膜電晶體具有較高的載子遷移率、良好的均勻性、低製程溫度和低漏電流等優點，在透明大尺寸面板、可撓型裝置以及驅動和補償電路元件方面具有廣泛應用前景。然而，下一代高解析度和高更新率顯示器…